DIC显微镜 检测压痕导电粒子 微分干涩显微镜

    XK-DIC3230微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的常选仪器。

性能特点

★ 采用优良的无限远光学系统，可提供越的光学性能。

★ 紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。

★ 符合人机工程学要求的理想设计，使操作方便舒适，空间广阔。

★ 内置式可切换偏光观察装置，起偏器可360°旋转。

★ 微分干涉相衬观察时图像清晰，干涉色均匀，具有较强的浮雕感。